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HemiView数字植物冠层分析系统
HemiView数字植物冠层分析系统名称:数字植物冠层分析系统 型号:HemiView 产地:英国用途:HemiView数字植物冠层分析系统通过处理影像数据文件来获取
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HEMIDIG 数字植物冠层分析系统
仪器简介:HemiView 通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的,例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息,HemiView 能够测算出冠层截获的PAR
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AccuPAR LP-80植物冠层分析仪
AccuPAR LP-80植物冠层分析仪名称:植物冠层分析仪 型号:AccuPAR LP-80 产地:美国用途:AccuPAR LP-80植物冠层分析仪可以测量评估
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DJ-3200数字植物冠层分析系统
DJ-3200数字植物冠层分析系统通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的,例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布等。
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HemiView数字植物冠层分析系统
修正:可用任何方位的截取表面;·全部数值:大部分输出能将天空扇区表格化,集合到单个全天空或年数值中。 HemiView数字植物冠层分析系统通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的,例如叶面积
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植物冠层图像分析仪价格
植物冠层图像分析仪价格仪器介绍植物冠层图像分析仪用于各种高度植物冠层的研究,利用鱼眼镜头和CCD图像传感器获取植物冠层图像,通过专用分析软件,获得植物冠层的相关指标和参数。利用鱼眼镜头成像测量植物冠
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WinSCANOPY植物冠层分析系统
仪器简介:WinSCANOPY 是一套便携式的数字植物冠层分析系统。可测量叶面积指数、太阳辐射通量、辐射标准、冠层大小及位置、冠层分布、测点因数、透光面积等参数。 它是利用高分辨率专业
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SUNSCAN植物冠层分析系统
Ellipsoidal LAD equations),使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数。技术参数:SunScan探测器 ·探测器光谱响应:400
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MacroPATH 大体数字成像系统
专为记录大体组织取材过程的软硬件结合的系统,可拍照、摄像及录音,配合高清晰度数码相机可获得高质量图片,与软件结合使用可编辑及测量图片,为临床、教学、研究提供无价的诊断数据库。MacroPATH直观
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植物冠层分析仪
技术参数:测量范围:0~2700μmolm-2s-1分辨率:1μmolm-2s-1相对差度(谱响应):<10%(对植冠)精度:
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